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| Au－Si6－Au纳米结点电子输运行为的理论计算 |
| 程晓洪1， 张淑华2， 柳福提1,3 |
| 1.宜宾学院 物理与电子工程学院， 四川 宜宾； 2.宜宾学院 实验与教学资源管理中心， 四川 宜宾；3.宜宾学院 计算物理四川省高校重点实验室， 四川 宜宾 |
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| 程晓洪1， 张淑华2， 柳福提1,3 |
| 1.宜宾学院 物理与电子工程学院， 四川 宜宾； 2.宜宾学院 实验与教学资源管理中心， 四川 宜宾；3.宜宾学院 计算物理四川省高校重点实验室， 四川 宜宾 |
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摘要 运用密度泛函理论结合非平衡格林函数的方法，对Si6原子链与两半无限Au(100)－3×3电极耦合构成纳米结点的电子输运行为进行了理论模拟，对结点在不同距离下的电导、结合能进行了计算，结果得到当两电极距离为2.219 nm时，结点结合能较大，结构比较稳定，此时Si－Si平均键长为0.213 nm，Si－Au键长为0.228 nm.对于稳定结构结点，平衡电导为1.093 G0，电子主要通过Si原子的px与py态电子形成的π键进行传输；在－1.2～1.2 V的电压范围内，Si原子链导体具有比较稳定的电导，表现出类似金属的导电特性，其I－V曲线近似为直线关系.
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收稿日期: 2015-06-25
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